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性能特点
最高电阻精度：0.05 %；电阻最小分辨：0.1uΩ
最高方阻精度：3 %；方阻最小分辨：0.1uΩ
温度补偿功能（TC）；温度基本精度: 0.1 ℃
零底数设计，微弱电阻测试无需清零
被测件厚度可预设,电阻率测试无需查表
双电测模式,修正探针游移与样品边际效应
电阻/方阻、电阻率、电导率、温湿度同步测试
HANDLER/USB/RS232/RS485接口远程控制
U盘记录测试数据，并可远程升级仪器软件
符合GB/T 1551-2021
适用于测量半导体、导电薄膜、金属/纳米涂层、太阳能材料、陶瓷、半绝缘材料及各种新材料等
产品介绍：
CXT2667系列四探针测试仪是运用四探针测量原理的测量设备。该仪器是按照国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的，可用于测试导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻及其它各种材料)的专用仪器。仪器运用双电测原理，进行多次测量，自动消减样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测相比，大大提高测量精度和一致性。
仪器选配 U盘数据记录接口，可方便的进行测试数据的记录；标配USB接口和RS232/485接口可与电脑相连接；电脑配套操作软件可以方便直观的直接对仪器进行全功能操作、并记录数据,方便对材料进行电气分析。仪器测量精度高、稳定性好、智能化程度高、操作简单、测试结果显示直观，广泛运用于导体材料厂、科研单位、高等院校等对各种导体、类导体材料、及各种新材料的导电性能的测试。
适用范围：
适用于片状或块状导体材料测试.配置不同的测试探头可以测试各种导体的电阻率/方阻.也可使用电阻测试夹具直接测量电阻器电阻
产品描述:
电阻测试范围:0.1uΩ-2kΩ;方阻测试范围: 0.1uΩ/□-2kΩ/□; 电阻率测试范围取决于电阻测试范围及被测件尺寸。
