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日置 IM7585|IM7587阻抗分析仪

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日置HIOKI
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产品详情

高速、高稳定性测量,提高生产量!测量时间:最快0.5ms,测量值偏差0.07%

● 测量频率:1MHz~1.3GHz
● 测量时间:最快0.5ms(模拟测量时间)
● 测量值偏差:0.07%(测量频率1GHz时的代表值)
● 基本精度:±0.65% rdg.
● 紧凑主机仅机架一半大小,测试头仅手掌大小
● 丰富的接触检查功能(DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定)
● 使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量

主机不带测试治具。需要使用阻抗分析仪专用的测试治具。

测量模式LCR(LCR测量),分析(扫频测量),连续测量
测量参数Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q
精度保证范围100 mΩ~5 kΩ
显示范围Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ)
Ls, Lp: ± (0.00000 n~9.99999 GH) / Q: ± (0.00~9999.99)
θ: ± (0.000°~999.999°), Cs, Cp: ± (0.00000 p~9.99999 GF)
D: ± (0.00000~9.99999), Y: (0.000 n~9.99999 GS)
G, B: ± (0.000 n~9.99999 GS), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)
基本精度Z: ±0.65 % rdg. θ: ±0.38°
测量频率1 MHz~1.3 GHz (设置分辨率100kHz)
测量信号电平功率 (dbm)模式: -40.0 dBm~ +1.0 dBm
电压 (V)模式: 4 mV~502 mVrms
电流 ( I )模式: 0.09 mA~20.02 mArms
输出阻抗50 Ω (10 MHz时)
显示彩色TFT8.4英寸、触屏
测量时间最快0.5ms(FAST、模拟测量时间、代表值)
功能接触检查、比较器、BIN判定(分类功能)、面板读取·保存、存储功能、等效电路分析、相关补偿
接口EXT I/O (处理器), USB通讯, U盘, LAN
RS-232C (选件), GP-IB (选件)
电源AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max
体积和重量主机: 215W × 200H × 348D mm, 8.0 kg
测试头: 90W × 64H × 24D mm, 300 g
附件电源线 ×1, 测试头 ×1, 连接线 ×1, 使用说明书 ×1, CD-R (通讯使用说明书) ×1


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